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射击残留物标样套件
  • 产品型号:60806-5
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详细信息

套装包含两个标样:一个是合成的射击残留物颗粒,另一个是用于SEM\EDX自动颗粒分析的合成颗粒。

合成粒子样品(SPS)已经特定为用于鉴定和评估自动分析射击残留物样品的SEM\EDX分析系统.

SPS-TM-A 是在8 x 8mm的玻璃碳基上附着各种粒径的合成粒子,包括Pb, Sb和 Ba。 GSR合成粒子的粒径范围为0.5到 2.4 μm,随机分布在7 x 7mm的区域内。为提高导电性能,SPS测试标样上镀了一层很薄的碳膜。The SPS测试标样上的Pb/Sb/Ba粒子的数量是确定的。

1、8x8mm 玻璃碳基粘贴在标准样品座上。

2、大约100个 Pb/Sb/Ba粒子, 粒径为 0.5 / 0.8 / 1.2和2.4 μm。

3、3个 Pb/Sb/Ba粒子的粒径为10, 15和20μm。

4、镀了一层碳膜。

5、美国SPS标样都有独立的 ID号。

6、有X/Y定位图认证,粒子的化学成分确定。

用于射击残留物自动分析的调节、校正和认证,满足检验质量保证的需要。样品表面沉积了四种大小的Pb/Sb/Ba 颗粒,直径分别为 0.5μm,0.8μm, 1.2μm and 2.4μm,颗粒总数大约为 100 个,标样同时附有颗粒地图以备考察分析是否满足要求。可用于训练和考察操作者使用射击残留物自动分析软件的水平。

由于 Pb/Ba/Sb和玻璃碳基有很高的BSE对比信号,所以建议SEM就用BSE信号成像。 SEM的束流不能超过2 nA. For the evaluation of the automated GSR measurements 为了便于评估GSR的自动测试,建议将所获得的Pb/Ba/Sb粒子数据描绘在X-Y图纸上,这可非常直观将粒子的位置和粒径作比较。

用于检测和评估SEM/EDX自动粒子分析系统的标样

这种标样有10根由不同粒径颗粒组成的线,每根线都有20个颗粒。由于粒径和分布都确定,这种标样可用于检测SEM\EDX自动粒子分析系统的有效性。

1、10线 x 20 个粒子点阵

2、20 个粒子的大小相同,以150um相同间隔的分布在线上

3、粒径为 2.0 / 1.8 / 1.6 / 1.4 / 1.2 /1.0 / 0.8 / 0.6 / 0.5和0.4μm

4、在线的起点就标明了粒径大小

5、多层结构的 PbO / BaF2和Sb2O3粒子

6、玻璃碳基片

7、每个标样有两套10 x 20点阵.

这种标样非常适合于FESEM\SEM的校准、颗粒的测量和归类、EDX分析等。


 

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